5月8日上午10点，微纳电子学系校企共建课程第八次讲座在微电子大楼105教室举行。来自德州仪器公司（Texas Instruments，TI）的工程师朱宁仪先生和何志伟先生分别带来了题为“Package Level Reliability and Qualification Introduction”和“Bench automation and device failure investigation introduction”的专题讲座。讲座由主课教师杨志和孙亚男主持。
图1：朱宁仪作专题讲座
朱宁仪简要介绍了一些芯片可靠性测试的基本概念，阐释了产品质量和可靠性测试之间的关系。针对芯片封装的湿度敏感性、抗电解腐蚀能力、抗静电、使用寿命等关键需求或指标，朱宁仪给同学们介绍了主要的测试原理和方法。何志伟通过简要回顾芯片产品的开发流程，重申了芯片测试的重要性，介绍了器件失效分析的流程方法，并通过两个实例形象的给同学们做了展示。
图2：何志伟作专题讲座
微纳电子学系的校企共建课程涵盖本科生“微纳电子技术前沿讲座”以及研究生课程“集成电路设计前沿技术”两门课程，旨在将行业内领先企业的先进技术知识引入课堂，实施产学合作协同育人，推进国家示范性微电子学院建设。
图3：杨志、孙亚男共同为两位工程师颁发授课证书
